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Product Center半導(dao)體(ti)行業真空探(tan)針臺主要應用于傳感器(qi),半導(dao)體(ti),光電,集成(cheng)電路以及封裝(zhuang)的(de)測試(shi)。 廣泛應用于復雜、高速器(qi)件的(de)精密(mi)電氣(qi)測量的(de)研(yan)發,旨(zhi)在確(que)保質量及可靠性,并(bing)縮減(jian)研(yan)發時間和器(qi)件制造工藝的(de)成(cheng)本(ben)。
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相(xiang)關文章(zhang)品牌 | 鄭科探 |
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半導體行業真空探針臺主要(yao)應用于傳感器,半(ban)導體(ti)(ti),光電(dian),集成電(dian)路以(yi)及(ji)封(feng)裝的(de)測(ce)試。 廣(guang)泛應用于(yu)復雜、高(gao)速器件(jian)的(de)精(jing)密電氣測量(liang)的(de)研發(fa)(fa),旨在確保質量(liang)及可靠性,并縮減研發(fa)(fa)時間和器件(jian)制(zhi)造工藝的(de)成本。
該半導體行業真空探針臺的承載臺為(wei)60x60不銹鋼臺面(mian),臺面(mian)最(zui)(zui)高可升溫到最(zui)(zui)高350℃。真(zhen)空(kong)(kong)腔體設計(ji)有進氣口和抽真(zhen)空(kong)(kong)接口。探針臂為X/Y/Z三(san)軸移(yi)動,三(san)個(ge)方(fang)向均可在真(zhen)空環境下精密移(yi)位調(diao)節,其中X方向調節范(fan)圍:0-30mm;y方(fang)向調節范圍(wei):0-20mm;z方向調節(jie)范圍(wei):0-20mm;用戶可根據(ju)需要自(zi)行調(diao)節(jie)。使用時將需檢測的器件固定在加熱臺上,再微(wei)調(diao)探針支架X/Y/Z 方向行(xing)程,通(tong)過(guo)顯微鏡觀察,使探針對準檢(jian)測點后,即可進行(xing)檢(jian)測
真空腔體(ti) | ||
加(jia)熱型(xing) | 冷熱型 | |
腔體材質(zhi) | 304不銹鋼 | |
上蓋開啟(qi) | 鉸鏈側開 | |
加熱臺材質 | 304不銹鋼 | |
內腔體尺(chi)寸 | φ160x90mm | |
觀察窗尺寸 | Φ70mm | |
加(jia)熱(re)臺尺寸 | φ60mm | |
觀察(cha)窗熱臺間距 | 75mm | |
加熱臺溫度 | 35-350℃ | -196-350℃ |
加熱(re)臺溫控誤差 | ±1℃ | |
真(zhen)空(kong)度(du) | 機械泵≤10Pa 分子泵≤10-3Pa | |
允許正壓 | ≤0.1MPa | |
真空抽(chou)氣口 | KF25真(zhen)空法(fa)蘭 | |
氣(qi)體進氣(qi)口 | 3mm-6mm卡套(tao)接頭 | |
電(dian)信號接頭 | SMA轉BNC X 4 | |
電學性能 | 絕緣電阻 ≥4000MΩ 介質耐壓 ≤500V 漏電流 ≤-10次方安培 | |
探針數量 | 4探針 | |
探針材質 | 鍍金鎢(wu)針 | |
探(tan)針尖(jian) | 10μm | |
探針移動平臺(tai) | ||
X軸移動行程(cheng) | 30mm ±15mm | |
X軸控制精度 | ≤0.01mm | |
Y軸移動行程 | 13mm ±12.5mm | |
Y軸控制精度 | ≤0.01mm | |
Z軸移動行程 | 13mm ±12.5mm | |
Z軸(zhou)控(kong)制精度 | ≤0.01mm | |
電(dian)子顯微(wei)鏡 | ||
顯微鏡類別 | 物鏡 | |
物鏡倍(bei)數 | 0.7-4.5倍 | |
工(gong)作(zuo)間距 | 90mm | |
相(xiang)機 | sony 高清(qing) | |
像素 | 1920※1080像素 | |
圖像接口(kou) | VGA | |
LED可調光源 | 有 | |
顯示屏 | 8寸 | |
放大倍數 | 19-135倍,視場范圍15×13-2.25×1.7mm,最小可分辨0.08mm |