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當前位置:首頁產品中心材料樣品檢測真空探針臺KT-Z1604T-RL半導體行業真空探針臺

半導體行業真空探針臺

產品簡介

半導(dao)體(ti)行業真空探(tan)針臺主要應用于傳感器(qi),半導(dao)體(ti),光電,集成(cheng)電路以及封裝(zhuang)的(de)測試(shi)。 廣泛應用于復雜、高速器(qi)件的(de)精密(mi)電氣(qi)測量的(de)研(yan)發,旨(zhi)在確(que)保質量及可靠性,并(bing)縮減(jian)研(yan)發時間和器(qi)件制造工藝的(de)成(cheng)本(ben)。

產品型號:KT-Z1604T-RL
更新時間:2024-03-29
廠商性質:生產廠家
訪問量:1190
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品牌鄭科探

半導體行業真空探針臺主要(yao)應用于傳感器,半(ban)導體(ti)(ti),光電(dian),集成電(dian)路以(yi)及(ji)封(feng)裝的(de)測(ce)試。 廣(guang)泛應用于(yu)復雜、高(gao)速器件(jian)的(de)精(jing)密電氣測量(liang)的(de)研發(fa)(fa),旨在確保質量(liang)及可靠性,并縮減研發(fa)(fa)時間和器件(jian)制(zhi)造工藝的(de)成本。


    半導體行業真空探針臺的承載臺為(wei)60x60不銹鋼臺面(mian),臺面(mian)最(zui)(zui)高可升溫到最(zui)(zui)高350℃。真(zhen)空(kong)(kong)腔體設計(ji)有進氣口和抽真(zhen)空(kong)(kong)接口。探針臂為X/Y/Z三(san)軸移(yi)動,三(san)個(ge)方(fang)向均可在真(zhen)空環境下精密移(yi)位調(diao)節,其中X方向調節范(fan)圍:030mmy方(fang)向調節范圍(wei):020mmz方向調節(jie)范圍(wei):020mm;用戶可根據(ju)需要自(zi)行調(diao)節(jie)。使用時將需檢測的器件固定在加熱臺上,再微(wei)調(diao)探針支架X/Y/Z 方向行(xing)程,通(tong)過(guo)顯微鏡觀察,使探針對準檢(jian)測點后,即可進行(xing)檢(jian)測

真空腔體(ti)


加(jia)熱型(xing)

冷熱型

腔體材質(zhi)

304不銹鋼

上蓋開啟(qi)

鉸鏈側開

加熱臺材質

304不銹鋼

內腔體尺(chi)寸

φ160x90mm

觀察窗尺寸

Φ70mm

加(jia)熱(re)臺尺寸

φ60mm

觀察(cha)窗熱臺間距

75mm

加熱臺溫度

35-350

-196-350

加熱(re)臺溫控誤差

±1

真(zhen)空(kong)度(du)

機械泵≤10Pa   分子泵≤10-3Pa

允許正壓

0.1MPa

真空抽(chou)氣口

KF25真(zhen)空法(fa)蘭

氣(qi)體進氣(qi)口

3mm-6mm卡套(tao)接頭

電(dian)信號接頭

SMABNC X 4

電學性能

絕緣電阻 ≥4000MΩ   介質耐壓 ≤500V  漏電流 ≤-10次方安培

探針數量

4探針

探針材質

鍍金鎢(wu)針

探(tan)針尖(jian)

10μm

探針移動平臺(tai)

X軸移動行程(cheng)

30mm    ±15mm

X軸控制精度

0.01mm

Y軸移動行程

13mm    ±12.5mm

Y軸控制精度

0.01mm

Z軸移動行程

13mm    ±12.5mm

Z軸(zhou)控(kong)制精度

0.01mm

電(dian)子顯微(wei)鏡

顯微鏡類別

物鏡

物鏡倍(bei)數

0.7-4.5

工(gong)作(zuo)間距

90mm

相(xiang)機

sony 高清(qing)

像素

19201080像素

圖像接口(kou)

VGA

LED可調光源

顯示屏

8

放大倍數

19-135,視場范圍15×13-2.25×1.7mm,最小可分辨0.08mm






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