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產品簡介
KT-Z1604T探針(zhen)(zhen)臺主要(yao)應用于傳感器，半導體，光(guang)電(dian)(dian)，集成(cheng)電(dian)(dian)路以及封裝的測試。 廣泛應用于復雜、高(gao)速器件(jian)的精密電(dian)(dian)氣測量的研發光(guang)電(dian)(dian)流(liu)基礎測試探針(zhen)(zhen)臺廠家直(zhi)供，旨在確保質量及可靠(kao)性(xing)，并縮(suo)減研發時間(jian)和器件(jian)制造工藝(yi)的成(cheng)本(ben)
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相(xiang)關(guan)文章| 品牌 | 鄭科探 | 應用領域 | 電子 |
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光電流基礎測試探針臺廠家直供 KT-Z1604T探針臺主要應用于傳感器，半導體，光電，集成電路以及封裝的測試。 廣泛應用于復雜、高速器件的精密電氣測量的研發，旨在確保質量及可靠性，并縮減研發時間和器件制造工藝的成本。
光電流基礎測試探針臺廠家直供探針臺的承載臺為60x60不銹鋼臺面，臺面最高可升溫到最高350℃。真空腔體設計有進氣口和抽真空接口。探針臂為X/Y/Z三軸移動，三個方向均可在真空環境下精密移位調節，其中X方向調節范圍：0－30mm；y方向調節范圍：0－20mm；z方向調節范圍：0－20mm；用戶可根據需要自行調節。使用時將需檢測的器件固定在加熱臺上，再微調探針支架X/Y/Z 方向行程，通過顯微鏡觀察，使探針對準檢測點后，即可進行檢測
真(zhen)空腔體 | |
腔體(ti)材質(zhi) | 304不銹(xiu)鋼 |
上蓋開啟 | 鉸鏈側(ce)開(kai) |
加熱(re)臺材質(zhi) | 304不銹鋼 |
內腔體(ti)尺寸 | φ160x90mm |
觀察窗尺寸 | Φ70mm |
加(jia)熱臺尺寸 | φ60mm |
觀察窗熱(re)臺(tai)間距 | 75mm |
加熱臺溫度 | 35-350℃ |
加熱臺溫控(kong)誤差(cha) | ±1℃ |
真空度 | 機械(xie)泵≤10Pa 分子泵≤10-3Pa |
允許正壓 | ≤0.1MPa |
真空(kong)抽氣口(kou) | KF25真(zhen)空法蘭(lan) |
氣體進(jin)氣口(kou) | 3mm-6mm卡套接頭 |
電信號(hao)接(jie)頭 | SMA轉BNC X 4 |
電(dian)學(xue)性能 | 絕(jue)緣電阻 ≥4000MΩ 介質耐壓 ≤500V |
探針數量 | 4探針 |
探針材質 | 鎢針 |
探針尖 | 10μm |
探針移(yi)動平臺 | |
X軸(zhou)移動行程 | 30mm ±15mm |
X軸控制精度 | ≤0.01mm |
Y軸移動行程(cheng) | 13mm ±12.5mm |
Y軸(zhou)控(kong)制精度(du) | ≤0.01mm |
Z軸移動行程 | 13mm ±12.5mm |
Z軸控制精(jing)度 | ≤0.01mm |
電子顯微鏡 | |
顯微鏡(jing)類別(bie) | 物鏡 |
物(wu)鏡(jing)倍(bei)數 | 0.7-4.5倍 |
工作間距 | 90mm |
相機 | sony 高清 |
像素(su) | 1920※1080像素 |
圖像(xiang)接口 | VGA |
LED可調(diao)光源 | 有 |
顯示屏 | 8寸 |
放大倍數 | 19-135倍,視場范圍15×13-2.25×1.7mm，最小(xiao)可(ke)分(fen)辨(bian)0.08mm |
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