半導體測試探針臺是(shi)一款適(shi)用(yong)于4-6英寸晶(jing)圓測試(shi)的(de)基(ji)本型探針臺，結構(gou)緊湊(cou)，配置豐富(fu)，可搭配中體(ti)式或(huo)視(shi)頻(pin)顯微鏡(jing)，實(shi)用(yong)且性(xing)價比(bi)高，非常適(shi)合(he)高校、研究機(ji)構(gou)、半(ban)導體(ti)工(gong)廠等實(shi)驗室的(de)半(ban)導體(ti)測試(shi)應用(yong)，模塊化結構(gou)設計，支(zhi)持后期(qi)靈活(huo)擴(kuo)展升級。

半導體測試探針臺產品特點

◆帶卡(ka)盤(pan)快速拖出機構，方(fang)便(bian)晶(jing)圓上下(xia)片

◆卡盤可(ke)360°旋(xuan)轉及小(xiao)角度微調

◆采用雙臂萬向(xiang)顯微(wei)鏡(jing)(jing)支架，可360°*旋轉或(huo)前后快(kuai)速移動顯微(wei)鏡(jing)(jing)，方便快(kuai)速定(ding)位(wei)任意針測位(wei)置

◆卡盤平移臺采用精密絲(si)桿傳(chuan)動結(jie)構，無回程差設計，定位精準(zhun)

◆全新表面處理針(zhen)座平臺，摩擦力大，針(zhen)座吸附(fu)更(geng)穩定

◆卡盤可選鍍金卡盤、高(gao)溫卡盤、陶瓷卡盤、高(gao)透石英玻璃等

◆兼容連(lian)續變倍體視(shi)顯(xian)(xian)微(wei)鏡(jing)(jing)或視(shi)頻顯(xian)(xian)微(wei)鏡(jing)(jing)

◆臺面(mian)可個性化定(ding)制，滿足特殊測(ce)試(shi)需求

◆可集成光(guang)電流(liu)掃描成像或拉曼-瞬(shun)態熒(ying)光(guang)壽命成像系統

◆模塊化設(she)計，方便后期功能擴展(zhan)升(sheng)級

應用方向

晶(jing)(jing)圓(yuan)/樣片/分立器件/晶(jing)(jing)體管/納米(mi)器件/功率器件測(ce)試(shi)；封裝器件/PCB板測(ce)試(shi)；LED/PD/LD光電(dian)材料/器件的測(ce)試(shi)、可靠性(xing)分析或失效分析；30微米(mi)以上電(dian)極/PAD測(ce)試(shi)；I/V、C/V、C/F、射頻S參數(shu)、有源測(ce)試(shi)、耐(nai)壓測(ce)試(shi)、ESD測(ce)試(shi)、混(hun)合參數(shu)測(ce)試(shi)等

目前公(gong)司已研發生產(chan)產(chan)品十多(duo)個系列幾十款產(chan)品，產(chan)品囊括實驗(yan)電爐   CVD供氣(qi)系統   等(deng)離子清洗(xi)機(ji)   小(xiao)型離子濺射儀   小(xiao)型蒸鍍儀  石英管(guan)真空(kong)封(feng)口   半導體(ti)等(deng)。 主要適用于(yu)科研院校及工礦企業在新材料、新能(neng)源等(deng)領域物理(li)特性(xing)及化學特性(xing)的研究，廣銷(xiao)于(yu)各(ge)大(da)院校，及材料研究所。

    公(gong)司與(yu)國內高校，科(ke)研院所有多層(ceng)次的(de)(de)合(he)作關(guan)(guan)系，建(jian)有開放實(shi)驗室(shi)，相(xiang)關(guan)(guan)領域的(de)(de)教授、工程(cheng)師、博士參與(yu)公(gong)司產品(pin)的(de)(de)研究和(he)開發。我們秉承公(gong)司的(de)(de)發展理(li)念(nian)，依靠嚴謹的(de)(de)技術研發能力，科(ke)學合(he)理(li)的(de)(de)生產工藝，精益求(qiu)精的(de)(de)制造(zao)要求(qiu)，全(quan)心全(quan)意(yi)做(zuo)好產品(pin)質(zhi)量和(he)服務(wu)工作，科(ke)探儀器時刻懷著一(yi)顆(ke)真誠(cheng)的(de)(de)心期待與(yu)您的(de)(de)合(he)作。