KT-Z1604T探針臺主要應(ying)用于(yu)(yu)傳(chuan)感器(qi)，半導體(ti)，光(guang)電(dian)，集成電(dian)路以及封裝的(de)測試。 廣泛應(ying)用于(yu)(yu)復雜、高(gao)速器(qi)件的(de)精密電(dian)氣(qi)測量(liang)的(de)研發，旨在(zai)確保質量(liang)及可(ke)靠性，并(bing)縮(suo)減研發時間和(he)器(qi)件制(zhi)造工(gong)藝的(de)成本。
    該探針(zhen)臺(tai)(tai)的(de)承載臺(tai)(tai)為60x60不(bu)銹鋼臺(tai)(tai)面(mian)(mian)，臺(tai)(tai)面(mian)(mian)最(zui)高可(ke)升溫到最(zui)高350℃。真空腔(qiang)體(ti)設計有進氣口和(he)抽真空接(jie)口。探針(zhen)臂為X/Y/Z三(san)軸(zhou)移(yi)動，三(san)個方(fang)(fang)向均可(ke)在真空環境下精密移(yi)位調(diao)(diao)節(jie)(jie)(jie)，其(qi)中X方(fang)(fang)向調(diao)(diao)節(jie)(jie)(jie)范圍：0－30mm；y方(fang)(fang)向調(diao)(diao)節(jie)(jie)(jie)范圍：0－20mm；z方(fang)(fang)向調(diao)(diao)節(jie)(jie)(jie)范圍：0－20mm；用戶可(ke)根據需(xu)要(yao)自行(xing)調(diao)(diao)節(jie)(jie)(jie)。使用時將需(xu)檢(jian)測的(de)器件固定在加熱臺(tai)(tai)上，再微調(diao)(diao)探針(zhen)支架X/Y/Z 方(fang)(fang)向行(xing)程，通過顯微鏡觀察，使探針(zhen)對準檢(jian)測點(dian)后，即可(ke)進行(xing)檢(jian)測