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  • KT-Z1604TZ真空探針臺測試設備  高低溫測試臺

    真空(kong)探針臺測試(shi)(shi)設備 高低溫測試(shi)(shi)臺探針臂(bei)為X/Y/Z三軸移動,三個方(fang)向均可(ke)在真空(kong)環境下精密移位調(diao)(diao)(diao)節(jie)(jie),其(qi)中X方(fang)向調(diao)(diao)(diao)節(jie)(jie)范圍(wei):0-30mm;y方(fang)向調(diao)(diao)(diao)節(jie)(jie)范圍(wei):0-20mm;z方(fang)向調(diao)(diao)(diao)節(jie)(jie)范圍(wei):0-20mm;用戶(hu)可(ke)根據需(xu)(xu)要自(zi)行調(diao)(diao)(diao)節(jie)(jie)。使用時將需(xu)(xu)檢測的器件(jian)固定在加(jia)熱臺上,再微調(diao)(diao)(diao)探針支架X/Y/Z 方(fang)向行程,通過顯微鏡觀(guan)察(cha),使探針對準檢測點后,即可(ke)進行

    更新時間:2024-03-27
    產品型號:KT-Z1604TZ
    瀏覽量:1115
  • KT高低溫控制真空探針臺 *

    該探(tan)針(zhen)臺(tai)的承片臺(tai)X/Y/Z三(san)個(ge)方向(xiang)(xiang)均(jun)可在(zai)真空環境下調節(jie),其中X方向(xiang)(xiang)調節(jie)范圍:0-30mm;y方向(xiang)(xiang)調節(jie)高(gao)低(di)溫控制真空探(tan)針(zhen)臺(tai) * 范圍:0-13mm;z方向(xiang)(xiang)調節(jie)范圍:0-13mm;用戶可根據需要自行調節(jie)。使用時將需檢測(ce)的器件固定在(zai)加熱臺(tai)上,再(zai)微調探(tan)針(zhen)支(zhi)架(jia)X/Y/Z 方向(xiang)(xiang)行程(cheng),通過(guo)顯微鏡觀察,使探(tan)針(zhen)對(dui)準檢測(ce)點后,即(ji)可進(jin)行檢測(ce)。

    更新時間:2024-03-29
    產品型號:KT
    瀏覽量:1368
  • 真空測試微型探針臺

    真(zhen)空測試(shi)微型探(tan)針臺 該腔體設計有進氣(qi)口(kou)和(he)抽真(zhen)空接口(kou)其真(zhen)空度用機械泵可達<5Pa分子泵可達<-3Pa。真(zhen)空信(xin)(xin)號(hao)(hao)連(lian)接處使用級(ji)別真(zhen)空電(dian)極信(xin)(xin)號(hao)(hao)接頭,保證氣(qi)密(mi)性及(ji)抗干擾(rao)性能。使用時將需將待檢測的器件方在(zai)加熱臺面,探(tan)針尖處由3軸可移(yi)動探(tan)針手(shou)動調節移(yi)動至(zhi)被測試(shi)器件的引腳處,外部信(xin)(xin)號(hao)(hao)線連(lian)接測試(shi)儀器來測試(shi)電(dian)學信(xin)(xin)號(hao)(hao)。

    更新時間:2024-03-27
    產品型號:
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  • 實驗室真空加熱腔體 探針臺

    實驗室真空加熱腔體(ti) 探針(zhen)臺主要應用于半導體(ti)行業、光電(dian)行業、集成電(dian)路以及封(feng)裝的測試。廣泛應用于復(fu)雜、高速(su)器件的精(jing)密電(dian)氣測量(liang)的研(yan)發(fa),旨在確(que)保(bao)質量(liang)及可靠性,并縮減(jian)研(yan)發(fa)時間和器件制造(zao)工(gong)藝的成本

    更新時間:2024-03-29
    產品型號:
    瀏覽量:1404
  • 真空腔體氣體傳感器

    真空(kong)腔體(ti)氣(qi)體(ti)傳感(gan)(gan)器 加熱主要用于(yu)氣(qi)體(ti)敏(min)感(gan)(gan)材(cai)料或(huo)其他對環境敏(min)感(gan)(gan)性材(cai)料中的電(dian)化學信號測(ce)試。測(ce)試腔體(ti)可擴展模塊較多,該(gai)腔體(ti)設計有進(jin)氣(qi)口和(he)抽(chou)真空(kong)接口和(he)4-8芯(xin)信號真空(kong)電(dian)極及真空(kong)計接口,腔體(ti)上部安(an)裝有φ80石英(ying)觀察片(pian)方(fang)便觀察樣品和(he)光學用途。

    更新時間:2024-03-27
    產品型號:
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