鍍金鎢針真空探針臺 高溫真空熱臺主要應用于半導體行(xing)業(ye)、光電行(xing)業(ye)、集成電路以及封裝的(de)測(ce)試。廣(guang)泛應用于復雜、高(gao)速器件的(de)精密電氣測(ce)量的(de)研發，旨在(zai)確保質(zhi)量及可靠性，并縮減研發時間和(he)器件制造工藝的(de)成本(ben)

    鍍金鎢針真空探針臺 高溫真空熱臺主要用于氣體(ti)敏感材料(liao)或其他對環境(jing)敏感性材料(liao)中(zhong)的(de)電信號(hao)測試(shi)。測試(shi)腔體(ti)內部(bu)裝有(you)不銹鋼加熱承載臺，臺面為φ30，臺面可(ke)升溫到400℃。臺面四周裝有(you)微(wei)型(xing)3軸可(ke)移動鎢鋼探(tan)針，特別適(shi)合微(wei)小未封(feng)裝的(de)叉指電極(ji)等傳(chuan)感器測試(shi)。

    該腔體設(she)計有進氣口和抽真(zhen)空(kong)接口其真(zhen)空(kong)度用(yong)機械(xie)泵(beng)可(ke)達(da)＜5Pa分子(zi)泵(beng)可(ke)達(da)＜-3Pa。真(zhen)空(kong)信號(hao)連接處使用(yong)高級真(zhen)空(kong)電極信號(hao)接頭，保(bao)證氣密性及抗干擾性能。使用(yong)時將(jiang)需(xu)將(jiang)待檢(jian)測的(de)器件方在加熱臺(tai)面(mian)，探(tan)針尖處由3軸可(ke)移動(dong)探(tan)針手動(dong)調(diao)節移動(dong)至被測試器件的(de)引腳處，外(wai)部信號(hao)線連接測試儀(yi)器來測試電學信號(hao)。

         KT-Z1604T探針(zhen)臺主要應(ying)用于傳感(gan)器(qi)(qi)，半導(dao)體，光(guang)電，集(ji)成電路以(yi)及封(feng)裝的測(ce)試。 廣(guang)泛應(ying)用于復雜、高速(su)器(qi)(qi)件的精密電氣測(ce)量的研(yan)發(fa)，旨在確保(bao)質(zhi)量及可靠性，并縮減研(yan)發(fa)時間和器(qi)(qi)件制造(zao)工(gong)藝的成本(ben)。

        該探針臺的(de)(de)承載臺為60x60不銹鋼(gang)臺面(mian)，臺面(mian)可升溫到(dao)350℃。真空腔體設計有(you)進(jin)(jin)氣口和抽真空接口。探針臂(bei)為X/Y/Z三軸移動，三個方(fang)向(xiang)(xiang)均可在(zai)真空環境下(xia)精密(mi)移位(wei)調節，其中X方(fang)向(xiang)(xiang)調節范(fan)圍(wei)：0－30mm；y方(fang)向(xiang)(xiang)調節范(fan)圍(wei)：0－20mm；z方(fang)向(xiang)(xiang)調節范(fan)圍(wei)：0－20mm；用(yong)戶可根據需要自行調節。使用(yong)時(shi)將(jiang)需檢(jian)測的(de)(de)器(qi)件固定在(zai)加熱臺上(shang)，再(zai)微(wei)調探針支架(jia)X/Y/Z 方(fang)向(xiang)(xiang)行程，通過顯微(wei)鏡觀察，使探針對準檢(jian)測點后，即可進(jin)(jin)行檢(jian)測