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當前位置:首頁產品中心材料樣品檢測半導體制冷臺KT-0904T半導體(ti)制(zhi)冷臺 一英(ying)寸測試(shi)臺

半導體制冷臺 一英寸測試臺

產品簡介

半(ban)導體(ti)(ti)制(zhi)冷臺(tai) 一(yi)英寸(cun)測試臺(tai)是(shi)鄭(zheng)州(zhou)科(ke)(ke)探(tan)儀(yi)器設備有(you)限公司(si)是(shi)集開發、制(zhi)造、經營為(wei)一(yi)體(ti)(ti)的材(cai)料創(chuang)新型(xing)企業,如今公司(si)的產品已(yi)經遍布國內大(da)多數國家重點實驗室(shi) 及科(ke)(ke)學(xue)院校,科(ke)(ke)探(tan)儀(yi)器已(yi)經成為(wei)老(lao)師 同學(xue)歡迎和(he)信任的品牌(pai)之(zhi)一(yi)半(ban)導體(ti)(ti)氣敏材(cai)料真空探(tan)針臺(tai)

產品型號:KT-0904T
更新時間:2024-03-26
廠商性質:生產廠家
訪問量:1821
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一、基于真空探針(zhen)臺的(de)紅外探測器(qi)自動測試系統的(de)研究:  

(1)半導體制冷臺 一英寸測試臺硬件測試電路的設計:該部分主要為芯片的測試提供驅動電壓和時序激勵,同時完成像元響應電壓信號的采集與處理,同時在數據采集部分設計有單端轉差分網絡,消除共模噪聲的同時還可以增強模擬電壓信號的驅動能力。  

(2)真(zhen)空探(tan)(tan)(tan)針臺(tai)探(tan)(tan)(tan)針卡的(de)設計:對于(yu)不同陣列的(de)探(tan)(tan)(tan)測器芯片(pian),本(ben)文中設計有與之(zhi)相對應的(de)測試探(tan)(tan)(tan)針卡,同時(shi)將偏(pian)(pian)置(zhi)電(dian)壓的(de)產生(sheng)電(dian)路(lu)直接(jie)集成于(yu)測試探(tan)(tan)(tan)針卡上(shang)(shang),偏(pian)(pian)置(zhi)電(dian)壓可通過(guo)探(tan)(tan)(tan)針直接(jie)偏(pian)(pian)置(zhi)到芯片(pian)上(shang)(shang),避免模擬信號傳輸過(guo)程(cheng)中受到的(de)干擾。  

(3)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)系(xi)統(tong)自(zi)(zi)動(dong)(dong)控制(zhi)(zhi)的實(shi)現:本(ben)(ben)設計基于(yu)(yu)VC++的開發平臺(tai),通(tong)過RS232協議控制(zhi)(zhi)真(zhen)空(kong)探針臺(tai)和(he)基于(yu)(yu)FPGA的測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)電(dian)路(lu)模塊,并使用(yong)Matlab完(wan)成測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)數(shu)據的處理和(he)分析,終實(shi)現對320×240和(he)384×288系(xi)列芯片(pian)(pian)的自(zi)(zi)動(dong)(dong)選片(pian)(pian)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)。該自(zi)(zi)動(dong)(dong)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)系(xi)統(tong)實(shi)現了(le)(le)對非制(zhi)(zhi)冷紅外探測(ce)(ce)(ce)(ce)器芯片(pian)(pian)晶圓和(he)單片(pian)(pian)的自(zi)(zi)動(dong)(dong)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi),通(tong)過響應率、噪(zao)聲等相關參數(shu)的測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)結果完(wan)成對被測(ce)(ce)(ce)(ce)芯片(pian)(pian)整體(ti)性(xing)能的評(ping)估,并將測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)結果以測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)報告和(he)wafermap的形式展示出來。此(ci)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)結果作為封裝之前芯片(pian)(pian)選片(pian)(pian)的重要依據,極大的縮(suo)小了(le)(le)紅外探測(ce)(ce)(ce)(ce)器的測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)時間和(he)封裝成本(ben)(ben)。  


二、發展(zhan)背(bei)景:  

(1)公司以(yi)科技創新(xin)為(wei)(wei)主,服務社會為(wei)(wei)宗旨,積(ji)極設(she)計(ji)開發新(xin)型材(cai)料制(zhi)備設(she)備,奉獻于教育和(he)科學,經過長(chang)期(qi)的(de)研(yan)發和(he)不斷地技術積(ji)累,擁有熱(re)工(gong),制(zhi)造,控制(zhi)相關,為(wei)(wei)化(hua)學,物(wu)理,材(cai)料,電子,高(gao)分子工(gong)程,新(xin)材(cai)料制(zhi)備和(he)研(yan)發領域(yu)的(de)科學研(yan)究提供了精(jing)良設(she)備。  

(2)公司通過和(he)院校老師同學強強聯(lian)合,形(xing)成了(le)有效的信(xin)息,技術交流平(ping)臺,為科探(tan)儀器了(le)解市場需求提供了(le)強有力的支持!  

(3)目前公司已研發生產產品十多個系列幾十款產品,產品囊括實驗電爐、半導體制冷臺 一英寸測試臺CVD供氣系統、等離子清洗機、小型離子濺射儀、小型蒸鍍儀等,主要適用于科研院校及工礦企業在新材料、新能源等領域物理特性及化學特性的研究,廣銷于各大院校,及材料研究所。  


三、應用領(ling)域(yu):公司(si)(si)(si)與(yu)(yu)國內高校,科(ke)研院所有(you)多層次(ci)的(de)合作關(guan)系,建(jian)有(you)開放實驗(yan)室,相關(guan)領(ling)域(yu)的(de)教(jiao)授、高級(ji)工(gong)程師、博士(shi)參與(yu)(yu)公司(si)(si)(si)產(chan)品(pin)的(de)研究和開發。我們秉承公司(si)(si)(si)的(de)發展理念,依(yi)靠嚴謹的(de)技術研發能力,科(ke)學合理的(de)生產(chan)工(gong)藝,精(jing)益求精(jing)的(de)制造要求,全心全意做好產(chan)品(pin)質量和服務工(gong)作,科(ke)探(tan)儀(yi)器時刻懷著一顆(ke)真(zhen)誠的(de)心期待(dai)與(yu)(yu)您的(de)合作。

溫(wen)控器

加(jia)熱溫度

35-400℃

注意(yi):熱臺(tai)溫度(du)和(he)樣品(pin)溫度(du)存在(zai)偏差(cha) 客戶可用PT100熱電阻(zu)(zu)貼在(zai)和(he)樣品(pin)接近的(de)樣品(pin)臺(tai)面測量(liang)熱電阻(zu)(zu)值(zhi)對應分(fen)度(du)值(zhi)做(zuo)校準。

溫(wen)控誤(wu)差(cha)

±1℃

熱電偶類(lei)型

PT100高精度傳感器(qi)

溫控表

宇電(dian)PID溫控器

程序(xu)控溫

1段(可選(xuan)30段程(cheng)序(xu)控溫(wen)表)

加熱功率(lv)

≤300W

加熱電(dian)源

AC220v

尺寸

230x230x125MM

重量

6kg

真(zhen)空探(tan)針熱臺

腔體材質

304不銹鋼

加工方式

一(yi)體(ti)式CNC精加工

內腔體尺寸

137X57X21mm  容積165ML

加熱臺尺(chi)寸

Φ35mm

觀察窗內徑

Φ45mm

觀察(cha)窗材(cai)質

高透光石英玻璃(li)

信號輸出頭(tou)

SMA母頭   配線 SMA轉BNC  1.5米

電學(xue)性能

絕緣(yuan)電阻 ≥4000MΩ   介質耐壓 ≤500V

抽氣口(kou)

KF16

進氣口

6MM卡套(tao)

使用(yong)正(zheng)壓(ya)

≤O.05MPa

使用負壓

機械泵(beng)可獲得真空≤10Pa  分(fen)子泵(beng)可獲得真空≤10 -3 Pa

可擴展配件

氣體液體注射口

4芯(xin)電信號接頭(tou)

8芯(xin)電信號接頭(tou)

SMA905 光纖接口(kou)

擴(kuo)展5KV高壓電極

升級30段控溫儀表

移動探針

探針(zhen)規格

探針粗Φ0.5mm    探針尖 10μm

上下移動(dong)距離

2.5mm

前后移動距離(li)

±10mm

左右旋轉(zhuan)距離

120°




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