KT-Z1604T真空探針熱臺主(zhu)要(yao)應(ying)用(yong)于傳(chuan)感器(qi)，半導體(ti)，光電，集成(cheng)電路(lu)以及(ji)封(feng)裝(zhuang)的測試。 廣泛應(ying)用(yong)于復雜、高(gao)速器(qi)件的精密電氣(qi)測量(liang)的研發，旨在確保質量(liang)及(ji)可靠性，并縮減研發時間和(he)器(qi)件制造工(gong)藝的成(cheng)本(ben)。
      該真空探針熱臺的承載臺為60x60不銹(xiu)鋼臺面，臺面可(ke)升溫(wen)到350℃。真(zhen)空(kong)腔體設(she)計有進氣口(kou)(kou)和抽真(zhen)空(kong)接口(kou)(kou)。探(tan)針臂(bei)為X/Y/Z三軸(zhou)移動，三個方向(xiang)均可(ke)在真(zhen)空(kong)環境(jing)下精(jing)密(mi)移位調(diao)(diao)(diao)節(jie)，其中X方向(xiang)調(diao)(diao)(diao)節(jie)范圍：0－30mm；y方向(xiang)調(diao)(diao)(diao)節(jie)范圍：0－20mm；z方向(xiang)調(diao)(diao)(diao)節(jie)范圍：0－20mm；用戶可(ke)根據(ju)需(xu)要自行(xing)(xing)調(diao)(diao)(diao)節(jie)。使用時(shi)將需(xu)檢測(ce)的器(qi)件固定在加(jia)熱(re)臺上，再微(wei)調(diao)(diao)(diao)探(tan)針支架X/Y/Z 方向(xiang)行(xing)(xing)程，通過顯微(wei)鏡觀察(cha)，使探(tan)針對準檢測(ce)點(dian)后(hou)，即(ji)可(ke)進行(xing)(xing)檢測(ce)
真空探針(zhen)熱臺產品圖(tu)片