微型真空探針臺主要應用于半導體行業、光電行業、集成電路以及封裝的測試。廣泛應用于復雜、高速器件的精密電氣測量的研發，旨在確保質量及可靠性，并縮減研發時間和器件制造工藝的成本

  該微型真空探針臺的承片臺X/Y/Z三個方向均可在真空環境下調節，其中X方向調節范圍：0－30mm；y方向調節范圍：0－13mm；z方向調節范圍：0－13mm；用戶可根據需要自行調節。使用時將需檢測的器件固定在加熱臺上，再微調探(tan)針支架X/Y/Z 方向行程，通過顯微鏡觀察，使探針對準檢測點后，即可進行檢測。

   該探針(zhen)臺(tai)的承片臺(tai)X/Y/Z三(san)個方向(xiang)均(jun)可在(zai)真空環境下(xia)調(diao)節，其(qi)中X方向(xiang)調(diao)節范圍：0－30mm；y方向(xiang)調(diao)節范圍：0－13mm；z方向(xiang)調(diao)節范圍：0－13mm；用戶可根據需(xu)要自(zi)行調(diao)節。使用時將需(xu)檢測的器件固定在(zai)加(jia)熱臺(tai)上，再微調(diao)探針(zhen)支架X/Y/Z 方向(xiang)行程，通(tong)過顯(xian)微鏡觀察，使探針(zhen)對準檢測點(dian)后(hou)，即可進行檢測。

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