低溫真空探針臺鄭科探主要應用于傳感器，半(ban)導體(ti)，光電，集(ji)成電路以及封(feng)裝的測(ce)試。 廣泛應用于復(fu)雜(za)、高速(su)器件的(de)精密(mi)電氣測(ce)量(liang)的(de)研發，旨(zhi)在確(que)保質(zhi)量(liang)及可靠性(xing)，并縮減研發時間和器件制造工藝的(de)成本(ben)。

    低溫真空探針(zhen)臺鄭科(ke)探的(de)承載臺為60x60不銹鋼臺面，臺面最高可升(sheng)溫到(dao)最高350℃。真(zhen)空(kong)(kong)腔體(ti)設(she)計有(you)進氣口和抽真(zhen)空(kong)(kong)接口。探針(zhen)臂(bei)為X/Y/Z三(san)軸移動，三(san)個(ge)方向(xiang)均(jun)可(ke)在真空環境下(xia)精(jing)密移位調節，其(qi)中(zhong)X方向(xiang)調節范圍：0－30mm；y方(fang)向調節范(fan)圍：0－20mm；z方向調節范圍：0－20mm；用(yong)戶可根據需(xu)要(yao)自行調(diao)節。使(shi)用(yong)時將(jiang)需(xu)檢測的器件固定在加(jia)熱臺(tai)上，再微調(diao)探針支架X/Y/Z 方向行程，通過顯微鏡(jing)觀(guan)察，使(shi)探針對準(zhun)檢(jian)(jian)測點后(hou)，即(ji)可進行檢(jian)(jian)測

參數；