產品簡介

常溫半導(dao)體(ti)測試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi) 氣敏測試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi) 大(da)氣探針臺(tai)(tai)是一種用(yong)于(yu)半導(dao)體(ti)器(qi)件(jian)(jian)電性能(neng)測試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)的(de)(de)(de)(de)重要設備，通常由精(jing)(jing)密(mi)的(de)(de)(de)(de)機械(xie)結(jie)構、高性能(neng)的(de)(de)(de)(de)探針針頭和(he)電性能(neng)測試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)儀器(qi)組成。探針臺(tai)(tai)可以(yi)對半導(dao)體(ti)芯片(pian)、集成電路和(he)其他微(wei)電子器(qi)件(jian)(jian)進行直接(jie)的(de)(de)(de)(de)電性能(neng)測試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)，從而為研究和(he)生產提供有價值的(de)(de)(de)(de)信(xin)息。探針臺(tai)(tai)主要用(yong)于(yu)晶圓(yuan)加(jia)工之(zhi)后(hou)、封裝(zhuang)工藝(yi)之(zhi)前的(de)(de)(de)(de)CP測試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)環節，負責(ze)晶圓(yuan)的(de)(de)(de)(de)輸(shu)(shu)送(song)與定位(wei)，確(que)(que)保(bao)從晶圓(yuan)表(biao)面向(xiang)精(jing)(jing)密(mi)儀器(qi)輸(shu)(shu)送(song)更穩定的(de)(de)(de)(de)信(xin)號，實(shi)現更加(jia)精(jing)(jing)確(que)(que)的(de)(de)(de)(de)數(shu)據測試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)測量。