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Product Center微型(xing)真(zhen)空探(tan)針熱臺(tai)(tai)KT-Z165M4RT精巧型(xing)真(zhen)空腔體測試(shi)腔主要用(yong)于(yu)氣體敏感(gan)材(cai)料或其他對環境敏感(gan)性(xing)材(cai)料中(zhong)的電信號(hao)測試(shi)。測試(shi)腔體內部裝(zhuang)有不(bu)銹鋼(gang)加熱承載(zai)臺(tai)(tai),臺(tai)(tai)面為(wei)φ30,臺(tai)(tai)面最高可(ke)升溫到最高400℃。臺(tai)(tai)面四周裝(zhuang)有微型(xing)3軸(zhou)可(ke)移(yi)動鎢(wu)鋼(gang)探(tan)針,特(te)別適合微小未封裝(zhuang)的叉指電極等傳感(gan)器測試(shi)。
微(wei)型真空探(tan)(tan)針熱(re)臺(tai)KT-Z165M4RT鄭(zheng)科(ke)探(tan)(tan)廠家KT-Z165M4RT精巧(qiao)型真空腔體(ti)測(ce)試(shi)腔主要用于氣體(ti)敏感材料或其他對環境敏感性材料中(zhong)的電信(xin)號測(ce)試(shi)。測(ce)試(shi)腔體(ti)內(nei)部裝有不銹(xiu)鋼(gang)加熱(re)承載臺(tai),臺(tai)面為φ30,臺(tai)面最(zui)高(gao)可(ke)升溫(wen)到最(zui)高(gao)400℃。臺(tai)面四周(zhou)裝有微(wei)型3軸可(ke)移動鎢鋼(gang)探(tan)(tan)針,特(te)別適(shi)合微(wei)小(xiao)未(wei)封(feng)裝的叉指(zhi)電極(ji)等傳感器測(ce)試(shi)。
真空測量(liang)探(tan)針臺探(tan)針臺主(zhu)要應用于傳感器(qi),半導體,光電,集成電路以及(ji)封(feng)裝的測試。 廣泛應用于復雜、高(gao)速器(qi)件的精密電氣(qi)測量(liang)的研發,旨在確保質量(liang)及(ji)可靠性,并縮減研發時間和器(qi)件制造(zao)工藝的成本。
實驗室(shi)微型(xing)四探(tan)針真空探(tan)針臺主要應用于(yu)傳感器(qi),半導(dao)體,光電,集成電路(lu)以及封裝的(de)測(ce)試。 廣泛應用于(yu)復雜、高速(su)器(qi)件的(de)精密電氣(qi)測(ce)量的(de)研(yan)發(fa),旨在確(que)保質量及可(ke)靠性,并縮減(jian)研(yan)發(fa)時間(jian)和器(qi)件制造工藝的(de)成本。
鄭科(ke)探(tan)(tan) 高低(di)溫真(zhen)空(kong)探(tan)(tan)針(zhen)臺(tai) KT-Z165M4RT精巧型真(zhen)空(kong)腔(qiang)體測試(shi)腔(qiang)主(zhu)要用于氣體敏(min)感(gan)材(cai)(cai)料(liao)或其他對環境敏(min)感(gan)性材(cai)(cai)料(liao)中的(de)電信號測試(shi)。測試(shi)腔(qiang)體內部裝有不銹鋼(gang)加熱承載臺(tai),臺(tai)面(mian)為φ30,臺(tai)面(mian)最高可(ke)升(sheng)溫到最高400℃。臺(tai)面(mian)四周裝有微型3軸可(ke)移動鎢鋼(gang)探(tan)(tan)針(zhen),特(te)別適合微小未封裝的(de)叉指(zhi)電極等傳(chuan)感(gan)器測試(shi)。