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加熱高(gao)(gao)溫微(wei)型(xing)真空(kong)探針臺KT-Z165M4RT精巧型(xing)真空(kong)腔體測(ce)試腔主要用(yong)于氣體敏感(gan)(gan)材料或其他(ta)對環境(jing)敏感(gan)(gan)性材料中的電(dian)信號(hao)測(ce)試。測(ce)試腔體內(nei)部裝(zhuang)有(you)不銹(xiu)鋼加熱承載(zai)臺，臺面為φ30，臺面最(zui)高(gao)(gao)可升溫到最(zui)高(gao)(gao)400℃。臺面四周裝(zhuang)有(you)微(wei)型(xing)3軸可移動鎢鋼探針，特(te)別適合(he)微(wei)小未(wei)封裝(zhuang)的叉指電(dian)極(ji)等傳(chuan)感(gan)(gan)器測(ce)試。

高低溫真空探針臺4探針探針臺主要應(ying)用于傳感器(qi)(qi)，半導(dao)體，光(guang)電(dian)，集成電(dian)路以及封裝的測試。 廣泛應(ying)用于復雜、高速器(qi)(qi)件的精密電(dian)氣測量的研發(fa)(fa)，旨在確(que)保質量及可(ke)靠(kao)性，并縮減研發(fa)(fa)時間和器(qi)(qi)件制造工藝的成本(ben)。

低價的低溫(wen)室(shi)溫(wen)真空探針臺KT-Z165M4RT精巧(qiao)型(xing)真空腔體測(ce)試腔主要用(yong)于氣體敏(min)感材料(liao)或其他對環境敏(min)感性材料(liao)中的電(dian)信號測(ce)試。測(ce)試腔體內部裝有不銹鋼加熱承載臺，臺面為φ30，臺面高(gao)可(ke)升(sheng)溫(wen)到高(gao)400℃。

該探(tan)針臺(tai)的承片臺(tai)X/Y/Z三個方(fang)向(xiang)均可在真(zhen)空(kong)(kong)環境下調節(jie)(jie)(jie)，其中(zhong)X方(fang)向(xiang)調節(jie)(jie)(jie)范圍：0－30mm；y方(fang)向(xiang)調節(jie)(jie)(jie)高低(di)溫控制(zhi)真(zhen)空(kong)(kong)探(tan)針臺(tai) * 范圍：0－13mm；z方(fang)向(xiang)調節(jie)(jie)(jie)范圍：0－13mm；用戶可根據需要自行(xing)(xing)調節(jie)(jie)(jie)。使用時(shi)將需檢測的器(qi)件固(gu)定在加熱臺(tai)上，再微調探(tan)針支(zhi)架X/Y/Z 方(fang)向(xiang)行(xing)(xing)程，通過(guo)顯(xian)微鏡觀察，使探(tan)針對準檢測點(dian)后，即可進(jin)行(xing)(xing)檢測。

光學環境真(zhen)空微腔(qiang)探針臺 測(ce)試(shi)(shi)腔(qiang)：同(tong)時滿足靜態(tai)/動態(tai)測(ce)試(shi)(shi)，304不銹鋼材質(zhi)，可在紫外燈下保(bao)證氣密性測(ce)試(shi)(shi)； 測(ce)試(shi)(shi)樣品數：同(tong)時測(ce)試(shi)(shi)8個樣品，可進行頻(pin)率-阻抗測(ce)試(shi)(shi)、插指電極和場效應管測(ce)試(shi)(shi)；