高溫(wen)真空探針(zhen)臺(tai)KT-Z1604TZ

　　真(zhen)空探(tan)針臺可實現高真(zhen)空環境下(xia)的高溫(wen)及(ji)低(di)溫(wen)電學性能測(ce)(ce)量，真(zhen)空腔一體(ti)成型，具有設計合理(li)，真(zhen)空度(du)穩定，溫(wen)控精度(du)及(ji)機械精度(du)高等特(te)點(dian)；根(gen)據測(ce)(ce)試溫(wen)度(du)范圍(wei)不同(tong)，可單選高溫(wen)或(huo)(huo)低(di)溫(wen)等相應組件，溫(wen)度(du)可達到400℃，低(di)溫(wen)部分采用液(ye)氮或(huo)(huo)液(ye)氦冷卻組件，溫(wen)度(du)可低(di)至-196℃，；真(zhen)空系統可選機械泵(beng)或(huo)(huo)分子泵(beng)系統，真(zhen)空度(du)可達到10-3Torr或(huo)(huo)10-6Tor。

　　高(gao)低溫真空探(tan)針(zhen)臺應用：

　　可(ke)應用于低溫或(huo)高溫真(zhen)空環(huan)境下(xia)被(bei)測樣(yang)品(pin)的電(dian)(dian)學性能測試分析，如(ru)：半導體/微(wei)電(dian)(dian)子，電(dian)(dian)子，機電(dian)(dian)，物(wu)理，化(hua)學，材料，光電(dian)(dian)，納米，微(wei)機電(dian)(dian)/MEMS，生物(wu)芯片，航空航天等科學研究領(ling)域(yu)，以及IC設計/制(zhi)造(zao)/測試/封裝、LED、LCD/OLED、LD/PD、PCB、FPC等生產制(zhi)造(zao)領(ling)域(yu)。