真空(kong)探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)(tai)KT-Z160TZ主(zhu)要應(ying)(ying)用(yong)于半(ban)導體行業、光電(dian)行業、集成電(dian)路(lu)以及封裝(zhuang)的(de)(de)測試。探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)(tai)從操作(zuo)上(shang)(shang)來區(qu)分有(you)：手(shou)動，半(ban)自動，全自動從功(gong)能(neng)(neng)上(shang)(shang)來區(qu)分有(you)：溫控(kong)探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)(tai)，真空(kong)探(tan)(tan)  針(zhen)(zhen)臺(tai)(tai)(低溫探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)(tai))，RF探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)(tai)，LCD平(ping)板探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)(tai)，霍爾效應(ying)(ying)探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)(tai)，表面電(dian)阻率(lv)探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)(tai)。普(pu)遍應(ying)(ying)用(yong)于復雜、高(gao)速器(qi)件的(de)(de)精密電(dian)氣(qi)測量的(de)(de)研發，旨在確保質(zhi)量及可靠性，并縮減研發時間和器(qi)件制造(zao)工藝(yi)的(de)(de)成本。自動探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)測試臺(tai)(tai)在功(gong)能(neng)(neng)及組(zu)成上(shang)(shang)大同小異，即主(zhu)要由x-y向工作(zuo)臺(tai)(tai)，可編程承片臺(tai)(tai)、探(tan)(tan)卡/探(tan)(tan)卡支(zhi)架、打點(dian)器(qi)、探(tan)(tan)邊器(qi)、操作(zuo)手(shou)柄等組(zu)成

　　高低溫真空 探針臺應用：

　　可應(ying)用于低溫(wen)或高溫(wen)真(zhen)空環境下被(bei)測(ce)(ce)樣品的電(dian)學性能測(ce)(ce)試分(fen)析(xi)，如：半導體/微電(dian)子(zi)(zi)，電(dian)子(zi)(zi)，機(ji)(ji)電(dian)，物理，化學，材料，光電(dian)，納米，微機(ji)(ji)電(dian)/MEMS，生物芯片，航(hang)空航(hang)天等科學研(yan)究領域(yu)(yu)，以及IC設計/制造/測(ce)(ce)試/封裝、LED、LCD/OLED、LD/PD、PCB、FPC等生產制造領域(yu)(yu)。

　　· 結構(gou)緊(jin)湊，適(shi)用(yong)于各種變溫測試(shi)

　　· -196℃~400℃（配液(ye)氮致(zhi)冷模塊）

　　· 氣(qi)密腔(qiang)室設計，可通保護氣(qi)氛(fen)

　　· 4探針，手(shou)動定位（可擴(kuo)展為6個）

　　· 支持(chi)改動或定(ding)制